Avances en Ciencias e Ingenieria Vol. 5 nro 4 año 2014 Articulo 6

ELLIPSOMETRIC STUDY OF SEMITRANSPARENT SILVER LAYERS DEPOSITED ON GLASS

Utilizando elipsometría, se caracteriza la estructura de la película mediante los índices ópticos n, k (región visible, 450 nm < λ < 580 nm) y el espesor (15 < d < 35 nm). Los índices ópticos varían con la cantidad de plata depositada obteniéndose para los menores depósitos índices efectivos 1.0 < n < 1.8 y 1.6 < k < 2.6 que corresponden, de acuerdo a los modelos utilizados, a una fracción volumétrica entre 0.35 y 0.5 de plata en aire. Al aumentar la fracción volumétrica de plata se observa primeramente una disminución del espesor óptico efectivo de la película y para mayor cantidad de plata depositada se observa un aumento del espesor con índices que tienden a valores más próximos a los de la plata maciza. Se comparan los índices ópticos obtenidos con los que se obtienen mediante las teorías de medio efectivo.

Abstract

Using ellipsometry, the film structure is characterized by optical indices n, k (visible region, 450 nm < λ < 580 nm) and the thickness (15 < d < 35 nm). The optical indices change with the quantity of silver deposited, obtaining effective indices of 1.0 < n < 1.8 and 1.6 < k < 2.6 to the smaller deposits that belong to a volumetric fraction between 0.35 and 0.5 of silver in the air. An effective optical thickness film decrease is observed when the silver volumetric fraction increases, and a thickness increase with close indices to solid silver when the deposited silver increases. Optical and effective medium theory indices are compared.